透過電子顕微鏡像(テム像)
【英】:transmission electron microscope (TEM) image
試料を透過してくる電子(透過電子)で結像する像。中低倍率で組織観察するときの明視野、暗視野像と高倍率で原子レベルの構造を観察する結晶構造像がある。これらの像は弾性散乱電子で作られる。試料が厚くなると(〜10nm以上)非弾性散乱電子が重畳しこれらの像が不明瞭になる。非弾性散乱電子をエネルギーフィルタで取り除くと明瞭な像が得られる。
透過電子顕微鏡像(テム像)
- 透過電子顕微鏡像のページへのリンク