摩擦力顕微鏡とは? わかりやすく解説

Weblio 辞書 > 辞書・百科事典 > 百科事典 > 摩擦力顕微鏡の意味・解説 

摩擦力顕微鏡

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2020/06/09 05:15 UTC 版)

ナビゲーションに移動 検索に移動

摩擦力顕微鏡(まさつりょくけんびきょう、Frictional Force Microscope : FFM)または水平力顕微鏡(すいへいりょくけんびきょう、Lateral force microscope : LFM)は走査型プローブ顕微鏡の一種。

概要

コンタクトモード原子間力顕微鏡 (AFM)の構成で試料表面の形状や摩擦力の分布の情報を得るために使用される[1]

走査方向をカンチレバーの長手方向と直角に設定してステージを移動すると探針と試料表面間の摩擦でカンチレバーに捩れが生じるので、これにレーザー光を照射して反射した光束が4分割光検出素子において左右のセル間に光強度差が生じるのでFFM像の取得のために使用する[1]。試料表面の凸凹でカンチレバーが上下に動くと4分割光検出素子で上下のセル間の光強度差が生じるのでAFM像の取得のために使用する[1]。これによって表面の摩擦力の分布を現すFFM像と表面の凸凹を表すAFM像を同時に取得できる[1]

用途

  • 材料開発
  • 表面の調査

脚注

参考文献

関連項目




英和和英テキスト翻訳>> Weblio翻訳
英語⇒日本語日本語⇒英語
  

辞書ショートカット

すべての辞書の索引

「摩擦力顕微鏡」の関連用語

摩擦力顕微鏡のお隣キーワード
検索ランキング

   

英語⇒日本語
日本語⇒英語
   



摩擦力顕微鏡のページの著作権
Weblio 辞書 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
ウィキペディアウィキペディア
All text is available under the terms of the GNU Free Documentation License.
この記事は、ウィキペディアの摩擦力顕微鏡 (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、GNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。 Weblio辞書に掲載されているウィキペディアの記事も、全てGNU Free Documentation Licenseの元に提供されております。

©2025 GRAS Group, Inc.RSS