薄膜の測定
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/10/18 12:52 UTC 版)
薄膜の厚みは2種類測定される。1つ目は物理膜厚と呼ばれる単なる薄膜の厚みであり、これは水晶振動子と呼ばれる電圧をかけると振動して周波数を発生させる機器を用いる。2つ目は光学膜厚と呼ばれるもので膜の厚みに膜の持つ屈折率をかけることで得られるものである。実際には、光学膜厚は計算ではなく、光学モニターによって測定されている。
※この「薄膜の測定」の解説は、「薄膜」の解説の一部です。
「薄膜の測定」を含む「薄膜」の記事については、「薄膜」の概要を参照ください。
- 薄膜の測定のページへのリンク