デバイシェラー法とは? わかりやすく解説

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デバイシェラー‐ほう〔‐ハフ〕【デバイシェラー法】

読み方:でばいしぇらーほう

X線回折利用した構造解析の手法の一。粉末多結晶試料X線照射するブラッグ反射による物質固有環状回折像が得られる。この像を標準試料のものと比較して物質同定を行う。




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