Transmission electron microscopy

走査電子顕微鏡基本用語集

透過電子顕微鏡学　TEM: transmission electron microscopy

透過電子顕微鏡の電子光学系、形像コントラストなどを理論的に扱ったり、透過電子顕微鏡の使い方、試料作製法などを扱う学問。

2. 透過電子顕微鏡法

TEM: transmission electron microscopy

［目次：観察手法］

透過電子顕微鏡を使った観察法。

透過電子顕微鏡法　TEM: transmission electron microscopy

透過電子顕微鏡を使った観察法。

ウィキペディア

透過型電子顕微鏡

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2020/04/30 07:23 UTC 版)

透過型電子顕微鏡（とうかがたでんしけんびきょう、Transmission Electron Microscope; TEM）とは、電子顕微鏡の一種である。観察対象に電子線をあて、透過してきた電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡のこと。また、電子の波動性を利用し、試料内での電子の回折 (電子回折) の結果生じる干渉像から観察対象物の構造を観察する場合もある。物理学、化学、工学、生物学、医学などで幅広く用いられている。