「半導体試験」を解説文に含む見出し語の検索結果(1～10/46件中)
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/04/15 22:31 UTC 版)「半導体試験装置」の記事における「ハンドラ」の解説パッケージング後の試験の際、テスタにデ...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/04/15 22:31 UTC 版)「半導体試験装置」の記事における「プローバ」の解説ウェハーレベルでの試験の際、電気を流す...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/04/15 22:31 UTC 版)「半導体試験装置」の記事における「テスタ」の解説半導体デバイスに電気を流すことで、正常に...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/03/25 07:16 UTC 版)「テスト対象デバイス」の記事における「半導体試験」の解説半導体試験では、試験対象のデバイ...
半導体試験装置（はんどうたいしけんそうち）とは、集積回路（半導体デバイス）の製造工程において、性能等を試験し良品と不良品の選別を行う装置を指す。半導体試験装置の種類テスタ半導体デバイスに電気を流すこと...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2020/10/09 15:16 UTC 版)「プローブカード」の記事における「LSIテスタ」の解説「半導体試験装置」も参照 ウェーハ...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/11/23 03:25 UTC 版)「集積回路」の記事における「ウェハーテスト」の解説ウェハー上への回路形成が完了したら、半...
テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサ...
テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサ...
テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサ...
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