エレクトロマイグレーション
(electro migration から転送)
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2023/10/13 06:29 UTC 版)
エレクトロマイグレーション（英: electromigration）とは、電気伝導体の中で移動する電子と金属原子の間で運動量の交換が行われるために、イオンが徐々に移動することにより材の形状に欠損が生じる現象である。その効果は電流密度が高い場合に大きくなる。集積回路が微細化するにつれて、その影響が無視できなくなりつつある。
- ^ M. Gerardin (1861). “Chemical review”. Academy of Science Paris 53: 727.
- ^ Tim Rost (2005). “PREFACE” (PDF). IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 43: iii.
- ^ “Intel、2018年に14nmの新CPU“Coffee Lake”を投入 ～ 10nmに微細化されるCannon Lakeと並列投入”. PC Watch. (2016年7月19日) 2017年2月10日閲覧。
- ^ 英: high temperature operating life
[続きの解説]
「エレクトロマイグレーション」の続きの解説一覧
- 1 エレクトロマイグレーションとは
- 2 エレクトロマイグレーションの概要
- 3 関連項目
- electro migrationのページへのリンク
