出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2020/10/09 15:16 UTC 版)「プローブカード」の記事における「プローブカードの主要メーカー」の解説プローブカードのメ...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2020/10/09 15:16 UTC 版)「プローブカード」の記事における「LSIテスタ」の解説「半導体試験装置」も参照 ウェーハ...

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出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2020/10/09 15:16 UTC 版)「プローブカード」の記事における「脚注・出典」の解説^ 主に汎用メモリなどで、集積密度が...

ナビゲーションに移動検索に移動この記事には複数の問題があります。改善やノートページでの議論にご協力ください。出典がまったく示されていないか不十分です。内容に関する文献や情報源が必要です。（2020年9...

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出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2017/09/21 02:42 UTC 版)「探針」の記事における「プローバー」の解説半導体ICの電気特性を調べるための装置。電極に...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/04/15 22:31 UTC 版)「半導体試験装置」の記事における「プローバ」の解説ウェハーレベルでの試験の際、電気を流す...

日本電子材料株式会社JAPAN ELECTRONIC MATERIALS CORPORATION種類株式会社市場情報東証スタンダード 68551998年8月21日上場略称JEM本社所在地 日本〒660...

ニデックSVプローブ株式会社NIDEC SV PROBE CORPORATION種類株式会社本社所在地 日本〒171-0014東京都豊島区池袋4丁目32番8号サンポウ池袋ビル2階設立2013年7月30...