組み込み自己診断
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/07/09 12:14 UTC 版)
 | この記事は検証可能な参考文献や出典が全く示されていないか、不十分です。（2011年2月） |
- 信頼性の向上
- 修理サイクルタイムの短縮
また、次のような制約が伴う。
- 技術者のアクセス制限
- 製造時のテスト費用
BISTの主な目的は、複雑さの軽減、それによる費用の削減、そして外部テスト機器（パターンプログラム）への依存を減らすことである[1]。BISTは2つの方法で費用を削減する。
- テストサイクル期間を短縮する。
- テスターの制御下で駆動/検査する必要があるI/O信号数を減らすことにより、テスト/プローブのセットアップの複雑さを軽減する。
どちらも、自動試験装置サービスの時間当たり料金の削減につながる。
- ^ Martínez LH, Khursheed S, Reddy SM. LFSR generation for high test coverage and low hardware overhead. IET Computers & Digital Techniques. 2019 Aug 21.UoL repository
- ^ Marinescu, M., 1982. Simple and Efficient Algorithms for Functional RAM Testing. 1982 IEEE Test Conference, Philadelphia, (Nov.). IEEE Computer Society, pp. 236-239.
「組み込み自己診断」の続きの解説一覧
- 1 組み込み自己診断とは
- 2 組み込み自己診断の概要
- 3 命名
- 4 参照項目
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