組み込み自己診断
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/07/09 12:14 UTC 版)
参照項目
- システム工学 - 複雑なシステムの設計・統合・管理する方法に焦点を当てた学問
- 安全工学 - 工学的に設計されたシステムが許容できる水準の安全性を保証する工学分野
- 組み込みシステム - 電子システムの中で専用の機能をもつコンピュータシステム
- 組み込み試験装置 - 航空機搭載システムに組み込まれた障害管理および診断機器
- パワーオンセルフテスト - 電子機器の電源を入れた直後にソフトウェアによって実行される自己診断のプロセス
- オンボードダイアグノーシス - 自動車における自己診断機能
- S.M.A.R.T. - コンピューターのハードディスク装置における監視システム
- ウォッチドッグタイマー - コンピュータの誤動作を検出し回復するためのタイマー
外部リンク
- Hardware Diagnostic Self Tests（英語）
- BIST for Analog Weenies - BISTの機能と利点の概要 (アナログ・デバイセズ)（英語）
- ^ Martínez LH, Khursheed S, Reddy SM. LFSR generation for high test coverage and low hardware overhead. IET Computers & Digital Techniques. 2019 Aug 21.UoL repository
- ^ Marinescu, M., 1982. Simple and Efficient Algorithms for Functional RAM Testing. 1982 IEEE Test Conference, Philadelphia, (Nov.). IEEE Computer Society, pp. 236-239.
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