走査電子顕微鏡を解説文に含む用語の検索結果の5ページ目

「走査電子顕微鏡」を解説文に含む見出し語の検索結果(41～50/156件中)

secondary electron - 透過電子顕微鏡用語

【英】：secondary electron入射電子が試料内で衝突を繰り返しながらエネルギーを失い(非弾性散乱)、その過程で試料を構成している原子の外殻電子が弾き飛ばされ、この電子の一部が試料物質の束...

【英】：backscattered electronとは、入射電子が後方背面に反射(散乱)され、試料表面から飛び出す電子である。の強度は試料の原子番号が大きいほど大きい。のエネルギーは入射電子のエネル...

略語：SLEEM【英】：scanning low energy electron microscope試料に対する入射電子のエネルギーを数十から数百ボルトに低減して、細いプローブを試料上で走査し、試料...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/06/13 00:19 UTC 版)「東海大学」の記事における「私立学校施設整備補助金」の解説2006年採択操船シミュレー...

小寺正敏（こてらまさとし）は、日本の電子工学者。大阪工業大学名誉教授・電子クラブ2013/2014顧問。工学博士（大阪府立大学）。応用物理学会関西支部元評議員。日本学術振興会荷電粒子ビームの工業へ...

ナビゲーションに移動検索に移動小池和幸（こいけかずゆき）は、日本の物理学者。北海道大学名誉教授。専門は物性物理学。工学博士（東京大学、1986年）。1984年に世界初の高分解能スピン偏極走査電子顕...