「DLTS」を解説文に含む見出し語の検索結果(1～10/104件中)
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2013/04/05 03:03 UTC 版)「DLTS」の記事における「評価方法」の解説評価には、ショットキーダイオードやpnダイオ...
SRH統計(Shockley-Read-Hall processもしくはShockley-Hall-Read process)は、半導体中の深い準位によるキャリアの生成再結合(捕獲及び放出)の時定数に...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2018/02/07 15:39 UTC 版)「半導体工学」の記事における「半導体の物性・特性の測定手段」の解説半導体の示す様々な物性...
.mw-parser-output .ambox{border:1px solid #a2a9b1;border-left:10px solid #36c;background-color:#fbfb...
.mw-parser-output .ambox{border:1px solid #a2a9b1;border-left:10px solid #36c;background-color:#fbfb...
.mw-parser-output .ambox{border:1px solid #a2a9b1;border-left:10px solid #36c;background-color:#fbfb...
この記事は検証可能な参考文献や出典が全く示されていないか、不十分です。出典を追加して記事の信頼性向上にご協力ください。出典検索?: "半導体工学" – ニュース ...
左から順に赤外吸収、レイリー散乱、ストークスラマン散乱、反ストークスラマン散乱。3つの散乱では仮想状態へ遷移する。線の太さはシグナル強度を大まかに示している。物質に振動数 ν i {\d...
左から順に赤外吸収、レイリー散乱、ストークスラマン散乱、反ストークスラマン散乱。3つの散乱では仮想状態へ遷移する。線の太さはシグナル強度を大まかに示している。物質に振動数 ν i {\d...
左から順に赤外吸収、レイリー散乱、ストークスラマン散乱、反ストークスラマン散乱。3つの散乱では仮想状態へ遷移する。線の太さはシグナル強度を大まかに示している。物質に振動数 ν i {\d...
< 前の結果 | 次の結果 >
>>
「DLTS」の辞書の解説