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透過電子顕微鏡基本用語集
![]() ![]() 透過電子顕微鏡を用いた評価・分析に関する、理論や装置、試料結晶に関する基礎知識などについて解説しています。 提供 日本電子 URL http://www.jeol.co.jp/ |
透過電子顕微鏡基本用語集 のさくいん
「L」から始まる用語のさくいん
- LAADF-STEM
- LaB6単結晶チップ
- LACBED
- lanthanum hexaboride
- lanthanum hexaboride single-crystal tip
- large-angle convergent-beam electron diffraction
- lattice constant
- lattice defect
- lattice fringe
- lattice image
- lattice parameter
- lattice plane
- lattice vibration
- Laue condition
- Laue function
- Laue zone
- least-squares method
- LEEM
- Lichte focus
- line analysis
- liner tube
- liquid-metal ion source
- liquid-nitrogen trap
- long period structure
- long-range order parameter
- Lorentz electron microscopy
- Lorentz force
- Lorentz model
- Lorentzian function
- low energy electron microscope
- low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy
- low-angle type EDS detector
- low-pass filter
- luminous efficiency
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