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透過電子顕微鏡基本用語集
  透過電子顕微鏡を用いた評価・分析に関する、理論や装置、試料結晶に関する基礎知識などについて解説しています。 提供 日本電子 URL http://www.jeol.co.jp/ |
透過電子顕微鏡基本用語集 のさくいん
「P」から始まる用語のさくいん
- P/B比
- paraelectric material
- parallel detection
- parallel detector
- parallel electron energy-loss spectroscopy
- paramagnetic material
- parasitic aberration
- paraxial approximation
- partial dislocation
- PCTF
- peak-to-background ratio
- PEELS
- PEEM
- Peltier cooling
- penetrating power
- Penning vacuum gauge
- phase contrast
- phase plate
- phase transformation
- phase-contrast transfer function
- phonon
- photo emission electron microscope
- photo film
- photodiode array
- photomultiplier tube
- Pirani vacuum gauge
- plasma cleaning
- plasma oscillation
- plasmon
- plating
- PMT
- pneumatic damper
- Poendel Loesung
- point analysis
- point defect
- point resolution
- point spread function
- Poisson distribution
- polepiece
- polishing
- polycrystal
- post-column type
- post-magnetic field
- potential barrier
- pre-evacuation
- pre-magnetic field
- precipitate
- probe diameter
- probe-current detector
- projected potential
- projection lens
- projector lens
- pulse-height analyzer
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