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透過電子顕微鏡基本用語集
  透過電子顕微鏡を用いた評価・分析に関する、理論や装置、試料結晶に関する基礎知識などについて解説しています。 提供 日本電子 URL http://www.jeol.co.jp/ |
透過電子顕微鏡基本用語集 のさくいん
「C」から始まる用語のさくいん
- C-O lens
- calibration curve
- calorimeter
- camera constant
- camera length
- Castaing-Henry filter
- CAT method
- cathode
- cathode-ray tube
- cathodoluminescence
- CAT法
- caustic surface
- CBED
- CCD
- centro-symmetry
- characteristic X-ray
- charge and orbital ordering
- charge-coupled device
- charging
- chemical order
- chemical polishing
- chemical shift
- chemical-bonding state
- Cherenkov radiation
- chirality
- chromatic aberration
- cleaving
- Cliff-Lorimer method
- coating
- Cockcroft-Walton’s high-voltage circuit
- coherence
- cold cathode field-emission electron gun
- column approximation
- coma aberration
- coma-free axis
- combination aberration
- composite crystal
- composition analysis by thickness-fringe method
- concave grating
- condenser aperture
- condenser lens
- condenser mini lens
- condenser-objective lens
- conductive coating
- contamination
- continuous X-ray
- convergence
- convergence angle
- convergent-beam electron diffraction
- coolant
- core-hole interaction
- core-loss spectrum
- Cornu spiral
- correlation method
- counting rate
- critical backing pressure
- critical-voltage effect
- cross-correlation function
- crossover
- crossover point
- CRT
- crushing
- cryo pump
- crystal field splitting
- crystal growth
- crystal orientation
- crystal structure
- crystal structure analysis
- crystal structure factor
- crystal structure image
- crystallographic point group
- crystallographic space group
- Cs corrector
- Csコレクター
- curve fitting
- CWC
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