二川清
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二川 清（にかわ きよし、1949年 - ）は、日本の技術者である。大阪府出身。
- ^ a b K.Nikawa and S. Inoue (1996). “New Laser Beam Heating Methods Applicable to Fault Localization and Defect Detection in VLSI Devices”. Proc. International Reliability Physics Symposium: pp.346-354.
- ^ Kiyoshi Nikawa (1981). “Monte Carlo Calculations Based on the Generalized Electromigration Failure Model”. Int.Reliab.Phys.Symp., IEEE Vol.CH1619-6: pp.175-181.
- ^ K. Nikawa, N. Nasu, M. Murase, T. Kaito, T. Adachi, and S. Inoue: (1989). “New Applications of Focused Ion Beam Technique to Failure Analysis and Process Monitoring of VLSI”. Proc. International Reliability Physics Symposium, IEEE: pp.43-52.
- ^ K. Nikawa and S. Tozaki, (1993). “Novel OBIC observation method for detecting defects in Al stripes under current stressing”. Proc. International Symposium for Testing and Failure Analysis: pp.303-310.
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