4. 試料
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2019/05/15 13:38 UTC 版)
分割された2つの偏光は、試料中のごく近い位置を通ることになる。2偏光の位置のずれ量をシアー量といい、通常は 0.2μm 程度である。試料の異なる位置を通った光線は異なる光学特性（試料の厚みや屈折率）の光路を通り、結果として異なった光路長を経る事になる。この光路長の差異が、2つの偏光の位相にわずかなずれ（位相差、すれ量をレターデーションという）を生む。後にこの位相差は重要な意味を持つ。試料が無い場所、厚さの均一なカバーガラスなど、一様な媒質中を光が通った場合には位相差は生じない。
※この「4. 試料」の解説は、「微分干渉顕微鏡」の解説の一部です。
「4. 試料」を含む「微分干渉顕微鏡」の記事については、「微分干渉顕微鏡」の概要を参照ください。
ウィキペディア小見出し辞書の「4. 試料」の項目はプログラムで機械的に意味や本文を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。 お問い合わせ。
- 4. 試料のページへのリンク
