テストモードとは? わかりやすく解説

テストモード (Test Mode:TM)

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/03/26 10:16 UTC 版)

DDR3 SDRAMにおけるコマンドとオペレーション」の記事における「テストモード (Test Mode:TM)」の解説

テストモードA7テストモード0 通常動作 1 テストモード使用 テストモードはデバイス生産時にのみ使用されるテスト用のモードである。通常使用してならない。テストモードでデバイスどのように動作するかは未定義。おそらくデバイスメーカによってテストモードの動作異なる。

※この「テストモード (Test Mode:TM)」の解説は、「DDR3 SDRAMにおけるコマンドとオペレーション」の解説の一部です。
「テストモード (Test Mode:TM)」を含む「DDR3 SDRAMにおけるコマンドとオペレーション」の記事については、「DDR3 SDRAMにおけるコマンドとオペレーション」の概要を参照ください。

ウィキペディア小見出し辞書の「テストモード」の項目はプログラムで機械的に意味や本文を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。 お問い合わせ



英和和英テキスト翻訳>> Weblio翻訳
英語⇒日本語日本語⇒英語
  

辞書ショートカット

すべての辞書の索引

「テストモード」の関連用語

テストモードのお隣キーワード
検索ランキング

   

英語⇒日本語
日本語⇒英語
   



テストモードのページの著作権
Weblio 辞書 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
ウィキペディアウィキペディア
Text is available under GNU Free Documentation License (GFDL).
Weblio辞書に掲載されている「ウィキペディア小見出し辞書」の記事は、WikipediaのDDR3 SDRAMにおけるコマンドとオペレーション (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、GNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。

©2024 GRAS Group, Inc.RSS