「走査透過電子顕微鏡法」を解説文に含む見出し語の検索結果(21~30/45件中)

略語:ABF-STEM【英】:annular bright-field scanning transmission electron microscopy環状検出器により明視野STEM像を取得する手法...
略語:ABF-STEM【英】:annular bright-field scanning transmission electron microscopy環状検出器により明視野STEM像を取得する手法...
略語:ABF-STEM【英】:annular bright-field scanning transmission electron microscopy環状検出器により明視野STEM像を取得する手法...
略語:ABF-STEM【英】:annular bright-field scanning transmission electron microscopy環状検出器により明視野STEM像を取得する手法...
略語:HREM【英】:high-resolution electron microscopy球面収差の小さい対物レンズを用いた透過電子顕微鏡で、薄い試料からの透過波と回折波を干渉させて格子像や結晶構造...
略語:HREM【英】:high-resolution electron microscopy球面収差の小さい対物レンズを用いた透過電子顕微鏡で、薄い試料からの透過波と回折波を干渉させて格子像や結晶構造...
略語:HREM【英】:high-resolution electron microscopy球面収差の小さい対物レンズを用いた透過電子顕微鏡で、薄い試料からの透過波と回折波を干渉させて格子像や結晶構造...
略語:HREM【英】:high-resolution electron microscopy球面収差の小さい対物レンズを用いた透過電子顕微鏡で、薄い試料からの透過波と回折波を干渉させて格子像や結晶構造...
略語:HAADF-STEM【英】:high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法(S...
略語:HAADF-STEM【英】:high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法(S...




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