「走査透過電子顕微鏡法」を解説文に含む見出し語の検索結果(1～10/45件中)
【英】：annular dark-field detector高角度散乱暗視野（走査透過電子顕微鏡）像を得るのに用いられる円環状(内径〜3mm、外径〜8mm）の検出器。蛍光板またはYAGを用いて散乱電...
【英】：annular dark-field detector高角度散乱暗視野（走査透過電子顕微鏡）像を得るのに用いられる円環状(内径〜3mm、外径〜8mm）の検出器。蛍光板またはYAGを用いて散乱電...
【英】：annular dark-field detector高角度散乱暗視野（走査透過電子顕微鏡）像を得るのに用いられる円環状(内径〜3mm、外径〜8mm）の検出器。蛍光板またはYAGを用いて散乱電...
【英】：scattering cross section試料へ入射した電子が散乱を起こす確率を示すもので、面積の単位で表わしたもの。高角度散乱の断面積は小さく、低角度散乱の断面積は大きい。説明に「散乱...
【英】：scattering cross section試料へ入射した電子が散乱を起こす確率を示すもので、面積の単位で表わしたもの。高角度散乱の断面積は小さく、低角度散乱の断面積は大きい。説明に「散乱...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
【英】：multiple scattering入射電子が試料に進入していく過程で構成原子と次々に衝突し、試料から出て行くまでに多数回の衝突によって進行方向が変わっていく（散乱）現象。のうち、弾性散乱(...
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