「走査透過電子顕微鏡法」を解説文に含む見出し語の検索結果(11～20/45件中)
【英】：multiple scattering入射電子が試料に進入していく過程で構成原子と次々に衝突し、試料から出て行くまでに多数回の衝突によって進行方向が変わっていく（散乱）現象。のうち、弾性散乱(...
【英】：lattice vibration結晶を構成する原子は熱エネルギーによってその平衡位置の周りで振動するが、原子同士が特定の位相関係を持って振動することを指す。試料への入射電子がを励起して散乱さ...
【英】：lattice vibration結晶を構成する原子は熱エネルギーによってその平衡位置の周りで振動するが、原子同士が特定の位相関係を持って振動することを指す。試料への入射電子がを励起して散乱さ...
略語：TDS【英】：thermal diffuse scattering試料への入射電子が原子の熱振動(格子振動)を励起する非弾性散乱をいう。この非弾性散乱はエネルギーの損失が小さいので(0.1eV以...
略語：TDS【英】：thermal diffuse scattering試料への入射電子が原子の熱振動(格子振動)を励起する非弾性散乱をいう。この非弾性散乱はエネルギーの損失が小さいので(0.1eV以...
略語：TDS【英】：thermal diffuse scattering試料への入射電子が原子の熱振動(格子振動)を励起する非弾性散乱をいう。この非弾性散乱はエネルギーの損失が小さいので(0.1eV以...
略語：STEM image【英】：scanning transmission electron microscope (STEM) image微小電子プローブで薄膜試料上を二段偏向系を使って走査し、試...
略語：STEM image【英】：scanning transmission electron microscope (STEM) image微小電子プローブで薄膜試料上を二段偏向系を使って走査し、試...
略語：STEM image【英】：scanning transmission electron microscope (STEM) image微小電子プローブで薄膜試料上を二段偏向系を使って走査し、試...
略語：STEM image【英】：scanning transmission electron microscope (STEM) image微小電子プローブで薄膜試料上を二段偏向系を使って走査し、試...