「electron diffraction」を解説文に含む見出し語の検索結果(11~20/204件中)

略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:EBSD【英】:electron backscatter diffraction試料からの非弾性後方散乱電子によって作られる菊池図形は試料の方位に依存して敏感に変化する。入射電子プローブで試料を...
略語:EBSD【英】:electron backscatter diffraction試料からの非弾性後方散乱電子によって作られる菊池図形は試料の方位に依存して敏感に変化する。入射電子プローブで試料を...
略語:EBSD【英】:electron backscatter diffraction試料からの非弾性後方散乱電子によって作られる菊池図形は試料の方位に依存して敏感に変化する。入射電子プローブで試料を...
略語:EBSD【英】:electron backscatter diffraction試料からの非弾性後方散乱電子によって作られる菊池図形は試料の方位に依存して敏感に変化する。入射電子プローブで試料を...
材料分析法の一覧:目次: Top0–9ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ μSR - ミュオンスピン回転(muon spin rotation)χ - 磁化率を参照...
略語:CBED【英】:convergent-beam electron diffraction入射電子線を円錐状に絞って直径10nm以下の微小領域に照射し、ディスク状の回折図形を得て、結晶構造の定性/...
略語:CBED【英】:convergent-beam electron diffraction入射電子線を円錐状に絞って直径10nm以下の微小領域に照射し、ディスク状の回折図形を得て、結晶構造の定性/...




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