「電子プローブマイクロアナライザ」を解説文に含む見出し語の検索結果(11~18/19件中)
【英】:characteristic X-ray内殻電子の1つが励起して生じた空孔に、より高いエネルギー準位にある外殻電子が落ちる際、そのエネルギー差に対応するX線が放出される。これがであり、そのエネ...
略語:SEM【英】:scanning electron microscopeバルク試料の表面を微小電子プローブで走査し、表面から放出される二次電子や反射電子を検出器で受け、その強度をプローブ走査に同期...
略語:SEM【英】:scanning electron microscopeバルク試料の表面を微小電子プローブで走査し、表面から放出される二次電子や反射電子を検出器で受け、その強度をプローブ走査に同期...
略語:SEM【英】:scanning electron microscopeバルク試料の表面を微小電子プローブで走査し、表面から放出される二次電子や反射電子を検出器で受け、その強度をプローブ走査に同期...
略語:SEM【英】:scanning electron microscopeバルク試料の表面を微小電子プローブで走査し、表面から放出される二次電子や反射電子を検出器で受け、その強度をプローブ走査に同期...
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