「走査透過電子顕微鏡」を解説文に含む見出し語の検索結果(11～20/61件中)
【英】：scattering cross section試料へ入射した電子が散乱を起こす確率を示すもので、面積の単位で表わしたもの。高角度散乱の断面積は小さく、低角度散乱の断面積は大きい。説明に「散乱...
【英】：scattering cross section試料へ入射した電子が散乱を起こす確率を示すもので、面積の単位で表わしたもの。高角度散乱の断面積は小さく、低角度散乱の断面積は大きい。説明に「散乱...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
略語：LAADF-STEM【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法（ST...
【英】：condenser mini lensコンデンサーレンズと対物レンズの間に置かれ、観察モードに適した収束角を持つビームを作るレンズ。対物レンズのように磁場を強めるポールピースはない。コンデンサ...
【英】：condenser mini lensコンデンサーレンズと対物レンズの間に置かれ、観察モードに適した収束角を持つビームを作るレンズ。対物レンズのように磁場を強めるポールピースはない。コンデンサ...
【英】：multiple scattering入射電子が試料に進入していく過程で構成原子と次々に衝突し、試料から出て行くまでに多数回の衝突によって進行方向が変わっていく（散乱）現象。のうち、弾性散乱(...
【英】：multiple scattering入射電子が試料に進入していく過程で構成原子と次々に衝突し、試料から出て行くまでに多数回の衝突によって進行方向が変わっていく（散乱）現象。のうち、弾性散乱(...