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「液体金属イオン源」を解説文に含む見出し語の検索結果(1~10/13件中)

【英】:focusing電子ビームを絞って、焦点を合わせること。説明に「集束」が含まれている用語ケーラー照射ジェントルミリングブラウン管ポールピース液体金属イオン源集束イオンビーム加工静電レンズ電子レ...
【英】:focusing電子ビームを絞って、焦点を合わせること。説明に「集束」が含まれている用語ケーラー照射ジェントルミリングブラウン管ポールピース液体金属イオン源集束イオンビーム加工静電レンズ電子レ...
集束イオンビームを利用して試料を加工したり、観察する装置。ガリウムを使った液体金属イオン源から放出されたイオンビームをレンズ系で縮小し、集束イオンビームを作製する。基本的な構造はSEMと似ているが、イ...
集束イオンビームを利用して試料を加工したり、観察する装置。ガリウムを使った液体金属イオン源から放出されたイオンビームをレンズ系で縮小し、集束イオンビームを作製する。基本的な構造はSEMと似ているが、イ...
集束イオンビームを利用して試料を加工したり、観察する装置。ガリウムを使った液体金属イオン源から放出されたイオンビームをレンズ系で縮小し、集束イオンビームを作製する。基本的な構造はSEMと似ているが、イ...
【英】:metalイオンが、自由電子(結晶全体にわたって動ける電子)の場を通して結合している物質。その結晶構造は面心立方、体心立方か最密六方構造である。良好な導電性、熱伝導性、光の反射性を示し、展性、...
【英】:metalイオンが、自由電子(結晶全体にわたって動ける電子)の場を通して結合している物質。その結晶構造は面心立方、体心立方か最密六方構造である。良好な導電性、熱伝導性、光の反射性を示し、展性、...
略語:FIB【英】:focused ion-beam milling半導体デバイスの不良部分など、特定の領域をサブミクロンの精度で楔状に切り出し、TEM用の試料を作製する方法。ガリウムイオンを数kV〜...
略語:FIB【英】:focused ion-beam milling半導体デバイスの不良部分など、特定の領域をサブミクロンの精度で楔状に切り出し、TEM用の試料を作製する方法。ガリウムイオンを数kV〜...
略語:FIB【英】:focused ion-beam milling半導体デバイスの不良部分など、特定の領域をサブミクロンの精度で楔状に切り出し、TEM用の試料を作製する方法。ガリウムイオンを数kV〜...
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