「diffraction」を解説文に含む見出し語の検索結果(41~50/733件中)

英訳・(英)同義/類義語:X-ray diffraction結晶中をX線が通過すると、X線は波としての性質を示し、結晶中に規則正しく並んだ粒子のそばを通過するときに曲がり込み(回折し)、結晶中の粒子の...
英訳・(英)同義/類義語:X-ray diffraction結晶中をX線が通過すると、X線は波としての性質を示し、結晶中に規則正しく並んだ粒子のそばを通過するときに曲がり込み(回折し)、結晶中の粒子の...
略語:NBD【英】:nano-beam diffraction電子線を試料に平行照射して電子回折図形を取得したのち、電子線を試料上に収束し、かつ小さなコンデンサー絞りを用いてナノメーターサイズの領域を...
略語:NBD【英】:nano-beam diffraction電子線を試料に平行照射して電子回折図形を取得したのち、電子線を試料上に収束し、かつ小さなコンデンサー絞りを用いてナノメーターサイズの領域を...
略語:NBD【英】:nano-beam diffraction電子線を試料に平行照射して電子回折図形を取得したのち、電子線を試料上に収束し、かつ小さなコンデンサー絞りを用いてナノメーターサイズの領域を...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
【英】:optical diffraction method透過電子顕微鏡の対物レンズの性能を検査するのに使われる手法。非常に薄い非晶質試料のHREM像にレーザ光を照射して得られた光回折パターンから、...




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