「DUt」を解説文に含む見出し語の検索結果(21～30/822件中)
テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサ...
テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサ...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/03/25 14:06 UTC 版)「負荷テスト」の記事における「負荷テスト中のユーザーエクスペリエンス」の解説たとえば、テ...
半導体試験装置（はんどうたいしけんそうち）とは、集積回路（半導体デバイス）の製造工程において、性能等を試験し良品と不良品の選別を行う装置を指す。半導体試験装置の種類テスタ半導体デバイスに電気を流すこと...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/02/15 00:33 UTC 版)「フランスの教育」の記事における「技術大学」の解説技術大学（Institut unive...
ナビゲーションに移動検索に移動DUTウナラスカ空港 (アラスカ州ウナラスカ、アメリカ合衆国)の空港コードオランダ語のISO 639コード検査対象機 (Device Under Test) - 試験中の...
575型 トランジスターカーブトレーサーは、NPN,PNP両方のトランジスターの動的な特性を5インチのCRTに表示できる。 いくつかの異なるトランジスターの特性曲線が表示できる。 (Tektronix...
575型 トランジスターカーブトレーサーは、NPN,PNP両方のトランジスターの動的な特性を5インチのCRTに表示できる。 いくつかの異なるトランジスターの特性曲線が表示できる。 (Tektronix...
575型 トランジスターカーブトレーサーは、NPN,PNP両方のトランジスターの動的な特性を5インチのCRTに表示できる。 いくつかの異なるトランジスターの特性曲線が表示できる。 (Tektronix...
UT1とUTCとの差の推移を表したグラフ。折れ線が垂直になっている箇所があるのは、閏秒による調整が行われたため。線が赤い箇所は予測値。DUT1(ΔUT1)とは、地球の自転によって定義される世界時UT1...