「DUt」を解説文に含む見出し語の検索結果(1~10/822件中)

試験状態にさらされる機器で、被試験機器または供試機器と訳されている。部品の場合、DUT(Device Under Test)と呼ばれる。
試験状態にさらされる機器で、被試験機器または供試機器と訳されている。部品の場合、DUT(Device Under Test)と呼ばれる。
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/03/25 07:16 UTC 版)「テスト対象デバイス」の記事における「電子機器の試験」の解説エレクトロニクス業界では、D...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/04/15 22:31 UTC 版)「半導体試験装置」の記事における「プローバ」の解説ウェハーレベルでの試験の際、電気を流す...
読み方:でゅあるゆーすてくのろじー民生・軍事のどちらにも利用できる高度な先端技術。特別の武器技術ではなく民間分野で生まれた高度な性能をもつコンピューターなど、軍事目的にも利用可能な技術やその応用をさす...
読み方:でゅあるゆーすてくのろじー民生・軍事のどちらにも利用できる高度な先端技術。特別の武器技術ではなく民間分野で生まれた高度な性能をもつコンピューターなど、軍事目的にも利用可能な技術やその応用をさす...
読み方:でゅあるゆーすてくのろじー民生・軍事のどちらにも利用できる高度な先端技術。特別の武器技術ではなく民間分野で生まれた高度な性能をもつコンピューターなど、軍事目的にも利用可能な技術やその応用をさす...
読み方:でゅあるゆーすてくのろじー民生・軍事のどちらにも利用できる高度な先端技術。特別の武器技術ではなく民間分野で生まれた高度な性能をもつコンピューターなど、軍事目的にも利用可能な技術やその応用をさす...
ナビゲーションに移動検索に移動ソフトウェアの機能テストについては「機能テスト」をご覧ください。機能テスト (英: functional testing)は製造業においてFCTはと表記される。通常、機能...
ナビゲーションに移動検索に移動ソフトウェアの機能テストについては「機能テスト」をご覧ください。機能テスト (英: functional testing)は製造業においてFCTはと表記される。通常、機能...
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