「透過型電子顕微鏡」を解説文に含む見出し語の検索結果(11～20/526件中)
読み方：うるとらみくろとーむ透過型電子顕微鏡で観察する試料を作製するミクロトーム。ダイヤモンドナイフを用いて、試料の超薄切片の厚さをおおむね100ナノメートル以下にすることができる。ウルトラマイクロト...
読み方：うるとらみくろとーむ透過型電子顕微鏡で観察する試料を作製するミクロトーム。ダイヤモンドナイフを用いて、試料の超薄切片の厚さをおおむね100ナノメートル以下にすることができる。ウルトラマイクロト...
読み方：ちょうはくせっぺん透過型電子顕微鏡で観察するため、極めて薄い切片にした試料。ふつう、ダイヤモンドナイフなどの高硬度の刃先を備えたウルトラミクロトームを用いて作製する。光学顕微鏡の場合は数マイク...
読み方：ちょうはくせっぺん透過型電子顕微鏡で観察するため、極めて薄い切片にした試料。ふつう、ダイヤモンドナイフなどの高硬度の刃先を備えたウルトラミクロトームを用いて作製する。光学顕微鏡の場合は数マイク...
読み方：ちょうはくせっぺん透過型電子顕微鏡で観察するため、極めて薄い切片にした試料。ふつう、ダイヤモンドナイフなどの高硬度の刃先を備えたウルトラミクロトームを用いて作製する。光学顕微鏡の場合は数マイク...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/08/10 17:11 UTC 版)「電子顕微鏡」の記事における「透過型電子顕微鏡」の解説透過型電子顕微鏡 (Transmi...
でぃんぷる様々な加工欠陥の中で比較的なだらかな凹みの欠陥を指す。ひとつには、ポリシングにおけるパッドの硬度むらや工作物の自転むらなどに起因して発生すると考えられている。この他、透過型電子顕微鏡用の試料...
でぃんぷる様々な加工欠陥の中で比較的なだらかな凹みの欠陥を指す。ひとつには、ポリシングにおけるパッドの硬度むらや工作物の自転むらなどに起因して発生すると考えられている。この他、透過型電子顕微鏡用の試料...
読み方：くらいおでんしけんびきょうたんぱく質をはじめとする生体高分子などを急速に凍結させ、高分解能でその構造を解析する透過型電子顕微鏡。試料をセ氏零下270〜160度という低温に保ち、元の構造が破壊さ...
読み方：くらいおでんしけんびきょうたんぱく質をはじめとする生体高分子などを急速に凍結させ、高分解能でその構造を解析する透過型電子顕微鏡。試料をセ氏零下270〜160度という低温に保ち、元の構造が破壊さ...