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「低エネルギー電子顕微鏡」を解説文に含む見出し語の検索結果(11~20/29件中)

略語:PEEM【英】:photo emission electron microscope紫外線または真空紫外線を表面に照射することによって、発生する光電子(photo electron)を使って像を...
【英】:secondary-electron detector電子ビームの照射により試料表面から放出される二次電子を検出する検出器のこと。検出器の主な構成要素はシンチレータと光電子増倍管である。エネル...
【英】:secondary-electron detector電子ビームの照射により試料表面から放出される二次電子を検出する検出器のこと。検出器の主な構成要素はシンチレータと光電子増倍管である。エネル...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
略語:LEEM【英】:low energy electron microscope入射電子線のエネルギーを電場で数ボルトから数百ボルトに低減して試料に照射し、試料から後方弾性散乱された電子を試料直上の...
【英】:dark-field image対物レンズの後焦点面上に形成される回折図形中の1個の回折波を対物絞りで選んで結像した像。選んだ回折波が起こっている試料上の場所が像の上で明るく見える。明視野像と...
【英】:dark-field image対物レンズの後焦点面上に形成される回折図形中の1個の回折波を対物絞りで選んで結像した像。選んだ回折波が起こっている試料上の場所が像の上で明るく見える。明視野像と...
【英】:secondary electron入射電子が試料内で衝突を繰り返しながらエネルギーを失い(非弾性散乱)、その過程で試料を構成している原子の外殻電子が弾き飛ばされ、この電子の一部が試料物質の束...




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