「電子チャンネリングコントラスト」を解説文に含む見出し語の検索結果(1~10/17件中)
エネルギーを持った荷電粒子が結晶性試料中に入射したとき、特定の方位に沿ってより深く侵入する現象。関連する用語電子チャンネリングコントラスト...
エネルギーを持った荷電粒子が結晶性試料中に入射したとき、特定の方位に沿ってより深く侵入する現象。関連する用語電子チャンネリングコントラスト...
SEM像の明暗の差。対象物が観察できるためには、単に解像力だけではなく、ある程度のコントラストが必要である。SEMで観察されるコントラストには、試料表面の凹凸に起因するもののほか、組成、結晶性、磁性、...
SEM像の明暗の差。対象物が観察できるためには、単に解像力だけではなく、ある程度のコントラストが必要である。SEMで観察されるコントラストには、試料表面の凹凸に起因するもののほか、組成、結晶性、磁性、...
電子チャンネリングコントラスト(ECC)像。結晶性試料のSEM像を観察すると、場所ごとの結晶方位の違いがコントラストを生じる。これを利用して、結晶方位の分布や転位の観察を行うことができる。回折条件を変...
電子チャンネリングコントラスト(ECC)像。結晶性試料のSEM像を観察すると、場所ごとの結晶方位の違いがコントラストを生じる。これを利用して、結晶方位の分布や転位の観察を行うことができる。回折条件を変...
電子チャンネリングコントラスト(ECC)像。結晶性試料のSEM像を観察すると、場所ごとの結晶方位の違いがコントラストを生じる。これを利用して、結晶方位の分布や転位の観察を行うことができる。回折条件を変...
電子チャンネリングコントラスト(ECC)像。結晶性試料のSEM像を観察すると、場所ごとの結晶方位の違いがコントラストを生じる。これを利用して、結晶方位の分布や転位の観察を行うことができる。回折条件を変...
走査イオン顕微鏡像の略語。集束イオンビームで試料を走査したとき放出される二次電子を信号として、可視化した像。組成コントラスト、結晶方位コントラストがSEM像に比べて強く現れる。またイオンと試料の相互作...
走査イオン顕微鏡像の略語。集束イオンビームで試料を走査したとき放出される二次電子を信号として、可視化した像。組成コントラスト、結晶方位コントラストがSEM像に比べて強く現れる。またイオンと試料の相互作...
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