「試験機器」を解説文に含む見出し語の検索結果(1～10/114件中)
被試験機器から放射される電磁界を正しく測定する為の条件を満足する測定場所。
被試験機器から放射される電磁界を正しく測定する為の条件を満足する測定場所。
試験状態にさらされる機器で、被試験機器または供試機器と訳されている。部品の場合、DUT(Device Under Test)と呼ばれる。
試験状態にさらされる機器で、被試験機器または供試機器と訳されている。部品の場合、DUT(Device Under Test)と呼ばれる。
同軸ケーブルの一部を膨らませて空間を作り、外部導体をテーパ付き外箱、内部導体を板として50Ωで終端し、この空間に被試験機器を置き電磁界にさらしてイミュニティ試験を行う。
同軸ケーブルの一部を膨らませて空間を作り、外部導体をテーパ付き外箱、内部導体を板として50Ωで終端し、この空間に被試験機器を置き電磁界にさらしてイミュニティ試験を行う。
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出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/06/10 18:25 UTC 版)「公設試験研究機関」の記事における「試験研究設備」の解説各試験研究機関には、研究者と試験...
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「試験機器」の辞書の解説