出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/03/25 07:16 UTC 版)「テスト対象デバイス」の記事における「電子機器の試験」の解説エレクトロニクス業界では、D...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/03/25 07:16 UTC 版)「テスト対象デバイス」の記事における「半導体試験」の解説半導体試験では、試験対象のデバイ...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/03/25 14:06 UTC 版)「負荷テスト」の記事における「負荷テスト中のユーザーエクスペリエンス」の解説たとえば、テ...

ナビゲーションに移動検索に移動テスト対象システム（テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT）は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。被試験システム...

ナビゲーションに移動検索に移動テスト対象システム（テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT）は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。被試験システム...

ナビゲーションに移動検索に移動テスト対象システム（テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT）は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。被試験システム...

ナビゲーションに移動検索に移動テスト対象システム（テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT）は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。被試験システム...

ナビゲーションに移動検索に移動テスト対象システム（テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT）は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。被試験システム...

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テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサ...