【英】：scattering contrast入射電子は試料中の構成原子によって散乱される。対物絞りで止められた散乱電子は、あたかも試料に吸収があるかのように作用する。これを散乱吸収という。散乱の大き...

【英】：scattering contrast入射電子は試料中の構成原子によって散乱される。対物絞りで止められた散乱電子は、あたかも試料に吸収があるかのように作用する。これを散乱吸収という。散乱の大き...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/07/20 08:33 UTC 版)「格子欠陥」の記事における「X線回折」の解説電子顕微鏡と同じく回折コントラストとして観測...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/07/20 08:33 UTC 版)「格子欠陥」の記事における「電子顕微鏡」の解説ブラッグ反射の強度変化による回折コントラス...

STEM像あるいはTEM像のコントラストの一つ。非常に薄い試料の場合、透過して散乱された電子線は位相のズレを生じるので、散乱されずに透過した電子線、あるいは空間を通ってきた電子線との干渉によってコント...

STEM像あるいはTEM像のコントラストの一つ。非常に薄い試料の場合、透過して散乱された電子線は位相のズレを生じるので、散乱されずに透過した電子線、あるいは空間を通ってきた電子線との干渉によってコント...

薄膜状の試料に電子線を照射し、試料を透過した電子線を結像レンズ系で拡大する電子顕微鏡。可視像にするためには、結像レンズ系の下に置いた蛍光スクリーンで光に変換する。試料を電子が透過する必要があるので、1...

薄膜状の試料に電子線を照射し、試料を透過した電子線を結像レンズ系で拡大する電子顕微鏡。可視像にするためには、結像レンズ系の下に置いた蛍光スクリーンで光に変換する。試料を電子が透過する必要があるので、1...

薄膜状の試料に電子線を照射し、試料を透過した電子線を結像レンズ系で拡大する電子顕微鏡。可視像にするためには、結像レンズ系の下に置いた蛍光スクリーンで光に変換する。試料を電子が透過する必要があるので、1...

【英】：stereo microscopy試料の立体構造を観察するために、試料を5°〜10°異なる二つの方位に設定して電顕写真を撮り、二枚の写真を左右の目で独立に観察して立体感を得る方法。試料が結晶で...