数百eV以下の低エネルギーの電子プローブで結晶性試料を走査し、表面で弾性散乱した電子を検出して、像を作るSEM。形像に寄与するコントラストは回折コントラストである。減速法による陰極レンズが使われる一方...

【英】：diffraction contrastTEM像における散乱コントラストの内、試料が結晶の場合、角度に関して連続的に分布している散乱波は、ブラッグ反射を起こして非連続的に分布する回折波となる。

【英】：diffraction contrastTEM像における散乱コントラストの内、試料が結晶の場合、角度に関して連続的に分布している散乱波は、ブラッグ反射を起こして非連続的に分布する回折波となる。

【英】：energy contrast非弾性散乱電子の損失エネルギーの違いによる像のコントラスト。ある原子の吸収端エネルギーをエネルギー選択スリットで選択すると、その元素の試料内でのマッピングができる...

【英】：energy contrast非弾性散乱電子の損失エネルギーの違いによる像のコントラスト。ある原子の吸収端エネルギーをエネルギー選択スリットで選択すると、その元素の試料内でのマッピングができる...

試料表面での結晶成長を観察するためのSEM。結晶性試料の表面に浅い角度で電子プローブを入射させたときに起きる電子回折の特定の反射の強度を、像信号として利用する。電子回折パターンを観察するための蛍光スク...

試料表面での結晶成長を観察するためのSEM。結晶性試料の表面に浅い角度で電子プローブを入射させたときに起きる電子回折の特定の反射の強度を、像信号として利用する。電子回折パターンを観察するための蛍光スク...

試料表面での結晶成長を観察するためのSEM。結晶性試料の表面に浅い角度で電子プローブを入射させたときに起きる電子回折の特定の反射の強度を、像信号として利用する。電子回折パターンを観察するための蛍光スク...

試料表面での結晶成長を観察するためのSEM。結晶性試料の表面に浅い角度で電子プローブを入射させたときに起きる電子回折の特定の反射の強度を、像信号として利用する。電子回折パターンを観察するための蛍光スク...

試料表面での結晶成長を観察するためのSEM。結晶性試料の表面に浅い角度で電子プローブを入射させたときに起きる電子回折の特定の反射の強度を、像信号として利用する。電子回折パターンを観察するための蛍光スク...