非点補正を自動的に行う機能。実際には、直交する2方向に電子プローブを走査したときの画像信号の鮮鋭度を検出し、コントラストが最大になるように非点補正装置を動作させる。関連する用語非点補正電子プローブ...

細い電子プローブで試料表面を走査したとき、電子プローブの照射点から放出される種々の電子、電磁波を検出して画像化する装置。電子プローブを作り走査する電子光学系、信号を検出する検出器、試料を保持する試料ス...

細い電子プローブで試料表面を走査したとき、電子プローブの照射点から放出される種々の電子、電磁波を検出して画像化する装置。電子プローブを作り走査する電子光学系、信号を検出する検出器、試料を保持する試料ス...

細い電子プローブで試料表面を走査したとき、電子プローブの照射点から放出される種々の電子、電磁波を検出して画像化する装置。電子プローブを作り走査する電子光学系、信号を検出する検出器、試料を保持する試料ス...

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/08/06 01:23 UTC 版)「テラヘルツ顕微鏡」の記事における「レーザーテラヘルツ放射顕微鏡」の解説レーザーテラヘル...

走査イオン顕微鏡像の略語。集束イオンビームで試料を走査したとき放出される二次電子を信号として、可視化した像。組成コントラスト、結晶方位コントラストがSEM像に比べて強く現れる。またイオンと試料の相互作...

走査イオン顕微鏡像の略語。集束イオンビームで試料を走査したとき放出される二次電子を信号として、可視化した像。組成コントラスト、結晶方位コントラストがSEM像に比べて強く現れる。またイオンと試料の相互作...

走査イオン顕微鏡像の略語。集束イオンビームで試料を走査したとき放出される二次電子を信号として、可視化した像。組成コントラスト、結晶方位コントラストがSEM像に比べて強く現れる。またイオンと試料の相互作...

走査イオン顕微鏡像の略語。集束イオンビームで試料を走査したとき放出される二次電子を信号として、可視化した像。組成コントラスト、結晶方位コントラストがSEM像に比べて強く現れる。またイオンと試料の相互作...

p-n接合に電子が入射すると、電子−正孔対が出来るが、空乏層の電界によって電子はn領域へ、正孔はp領域に移動し、p-n接合の両端に電圧が発生する。これを内部起電力と言う。電子線誘起電圧と呼ばれることも...