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「集束イオンビーム装置」を解説文に含む見出し語の検索結果(1~10/19件中)

電子の放出源すなわち陰極。一般に、電界放出電子銃あるいはショットキー電子銃の陰極に対して使われることが多い。なお、集束イオンビーム装置の場合は、イオンの放出源がエミッタであり、陽極となる。関連する用語...
電子の放出源すなわち陰極。一般に、電界放出電子銃あるいはショットキー電子銃の陰極に対して使われることが多い。なお、集束イオンビーム装置の場合は、イオンの放出源がエミッタであり、陽極となる。関連する用語...
集束イオンビーム装置のイオン源。液体金属のガリウムをタングステンの針先にコーティングしたエミッタを陽極として、引出電極にマイナスの高電圧を掛け、ガリウムイオンビームを放出させる。寿命は1000時間程度...
集束イオンビーム装置のイオン源。液体金属のガリウムをタングステンの針先にコーティングしたエミッタを陽極として、引出電極にマイナスの高電圧を掛け、ガリウムイオンビームを放出させる。寿命は1000時間程度...
集束イオンビーム装置のイオン源。液体金属のガリウムをタングステンの針先にコーティングしたエミッタを陽極として、引出電極にマイナスの高電圧を掛け、ガリウムイオンビームを放出させる。寿命は1000時間程度...
数keV〜30keVのエネルギーを持った細いガリウムイオンビーム。SEM用の断面試料作製あるいはTEM、STEM用の薄膜試料作製に多用される。なお、FIBと言った場合、集束イオンビーム装置そのものを意...
数keV〜30keVのエネルギーを持った細いガリウムイオンビーム。SEM用の断面試料作製あるいはTEM、STEM用の薄膜試料作製に多用される。なお、FIBと言った場合、集束イオンビーム装置そのものを意...
数keV〜30keVのエネルギーを持った細いガリウムイオンビーム。SEM用の断面試料作製あるいはTEM、STEM用の薄膜試料作製に多用される。なお、FIBと言った場合、集束イオンビーム装置そのものを意...
SEMの電子光学系とFIBのイオン光学系を一つの試料室に配し、FIB加工した断面をそのままSEMで観察できるようにしたシステム。通常SEMとFIBの光学系はお互いに60゜傾いている。関連する用語電子光...
SEMの電子光学系とFIBのイオン光学系を一つの試料室に配し、FIB加工した断面をそのままSEMで観察できるようにしたシステム。通常SEMとFIBの光学系はお互いに60゜傾いている。関連する用語電子光...
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