「低角度散乱暗視野法」を解説文に含む見出し語の検索結果(1~10/29件中)
【英】:scattering angle電子線を試料に入射したときに、原子によって電子が散乱される角度。原子による電子の散乱では、原子番号が大きいほど散乱能は大きく、が大きくなるほど散乱能は弱くなる。
【英】:scattering angle電子線を試料に入射したときに、原子によって電子が散乱される角度。原子による電子の散乱では、原子番号が大きいほど散乱能は大きく、が大きくなるほど散乱能は弱くなる。
【英】:diffraction contrastTEM像における散乱コントラストの内、試料が結晶の場合、角度に関して連続的に分布している散乱波は、ブラッグ反射を起こして非連続的に分布する回折波となる。
【英】:diffraction contrastTEM像における散乱コントラストの内、試料が結晶の場合、角度に関して連続的に分布している散乱波は、ブラッグ反射を起こして非連続的に分布する回折波となる。
略語:HAADF-STEM【英】:high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法(S...
略語:HAADF-STEM【英】:high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法(S...
略語:HAADF-STEM【英】:high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法(S...
略語:HAADF-STEM【英】:high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法(S...
略語:HAADF-STEM【英】:high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy走査透過電子顕微鏡法(S...
【英】:elastically scattered electron入射電子が試料を構成する原子と衝突し進行方向を変える(散乱)とき、そのエネルギーを失わずに散乱される電子。試料が結晶の場合、弾性散乱...
< 前の結果 | 次の結果 >