「エネルギー分散型X線分光」を解説文に含む見出し語の検索結果(1~10/56件中)
【英】:pulse-height analyzer放射線検出器の出力のような電圧パルスについて、パルスの波高の上限と下限を任意に設定し、その設定された一定幅の電圧区間(チャンネル)内に入るパルスだけを...
【英】:pulse-height analyzer放射線検出器の出力のような電圧パルスについて、パルスの波高の上限と下限を任意に設定し、その設定された一定幅の電圧区間(チャンネル)内に入るパルスだけを...
【英】:pulse-height analyzer放射線検出器の出力のような電圧パルスについて、パルスの波高の上限と下限を任意に設定し、その設定された一定幅の電圧区間(チャンネル)内に入るパルスだけを...
略語:XES【英】:X-ray emission spectroscopy物質にX線、電子線などを照射し、放出されたX線を分光分析して固体の電子の占有状態(価電子帯)の状態密度を測る手法。関連する用語...
略語:XES【英】:X-ray emission spectroscopy物質にX線、電子線などを照射し、放出されたX線を分光分析して固体の電子の占有状態(価電子帯)の状態密度を測る手法。関連する用語...
略語:XES【英】:X-ray emission spectroscopy物質にX線、電子線などを照射し、放出されたX線を分光分析して固体の電子の占有状態(価電子帯)の状態密度を測る手法。関連する用語...
略語:XES【英】:X-ray emission spectroscopy物質にX線、電子線などを照射し、放出されたX線を分光分析して固体の電子の占有状態(価電子帯)の状態密度を測る手法。関連する用語...
略語:AEM【英】:analytical electron microscopy透過電子顕微鏡にEDS、EELSなどの分析機能を付加し、TEM観察した場所の微小領域の元素の定性/定量分析や電子状態の分...
略語:AEM【英】:analytical electron microscopy透過電子顕微鏡にEDS、EELSなどの分析機能を付加し、TEM観察した場所の微小領域の元素の定性/定量分析や電子状態の分...
略語:AEM【英】:analytical electron microscopy透過電子顕微鏡にEDS、EELSなどの分析機能を付加し、TEM観察した場所の微小領域の元素の定性/定量分析や電子状態の分...
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