「イオン化断面積」を解説文に含む見出し語の検索結果(1~10/16件中)
【英】:ionization cross section中性の原子や分子が、他の粒子との衝突によって電子を失ったり得たりしてイオンとなる現象をイオン化(電離)というが、この現象が起きる確率を面積の次元...
【英】:ionization cross section中性の原子や分子が、他の粒子との衝突によって電子を失ったり得たりしてイオンとなる現象をイオン化(電離)というが、この現象が起きる確率を面積の次元...
【英】:standardless quantificationEDSによる元素の定量分析をする際に、標準物質からの発光X線強度の測定を行うこと無しに定量する方法。TEMでは約数10nm以下の薄膜試料の...
【英】:standardless quantificationEDSによる元素の定量分析をする際に、標準物質からの発光X線強度の測定を行うこと無しに定量する方法。TEMでは約数10nm以下の薄膜試料の...
【英】:k factorEDSでクリフ・ロリマー法を適用する場合に使う因子。実験的にを決める場合は、目的の物質に近い組成の二元素A、Bから成る標準試料について特性X線強度IA、IB を測定し、組成CA...
【英】:k factorEDSでクリフ・ロリマー法を適用する場合に使う因子。実験的にを決める場合は、目的の物質に近い組成の二元素A、Bから成る標準試料について特性X線強度IA、IB を測定し、組成CA...
【英】:Cliff-Lorimer method特性X線の分光分析において、目的元素の定量に用いる手法で試料が数10nm以下(測定元素の違いにより変わる)の場合に適用される。薄膜近似法ともいう。たとえ...
【英】:Cliff-Lorimer method特性X線の分光分析において、目的元素の定量に用いる手法で試料が数10nm以下(測定元素の違いにより変わる)の場合に適用される。薄膜近似法ともいう。たとえ...
【英】:Cliff-Lorimer method特性X線の分光分析において、目的元素の定量に用いる手法で試料が数10nm以下(測定元素の違いにより変わる)の場合に適用される。薄膜近似法ともいう。たとえ...
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2019/11/03 17:44 UTC 版)「X線光電子分光」の記事における「定量」の解説光電子の強度(個数) I {\displa...
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