「イオンミリング」を解説文に含む見出し語の検索結果(1～10/57件中)
【英】：gentle milling集束イオンビーム法や通常のイオンミリングによって作られた試料の表面は損傷を受けていることが多い。損傷層を取り除くために100V〜2kVの低加速のアルゴンイオンで穏や...
【英】：gentle milling集束イオンビーム法や通常のイオンミリングによって作られた試料の表面は損傷を受けていることが多い。損傷層を取り除くために100V〜2kVの低加速のアルゴンイオンで穏や...
【英】：depth profileイオンミリングなどで試料表面を少しずつ削りとり、試料の深さ方向に沿って組成分析した結果をプロファイルしたもの。
【英】：depth profileイオンミリングなどで試料表面を少しずつ削りとり、試料の深さ方向に沿って組成分析した結果をプロファイルしたもの。
イオン銃から放出されたままの、レンズ系による集束作用を受けない直径数mmのイオンビーム。通常、ペニング形イオン銃を利用して作るが、イオンビームスパッタ装置、イオンミリング装置、クロスセクションポリシャ...
イオン銃から放出されたままの、レンズ系による集束作用を受けない直径数mmのイオンビーム。通常、ペニング形イオン銃を利用して作るが、イオンビームスパッタ装置、イオンミリング装置、クロスセクションポリシャ...
イオン銃から放出されたままの、レンズ系による集束作用を受けない直径数mmのイオンビーム。通常、ペニング形イオン銃を利用して作るが、イオンビームスパッタ装置、イオンミリング装置、クロスセクションポリシャ...
【英】：ion etching試料にイオンビームを照射して、格子欠陥のあるところや特定の原子を選択的に取り除く方法。試料表面の組織観察に使われる。TEM用の試料作製では選択的でない一様な薄膜化が必要と...
【英】：ion etching試料にイオンビームを照射して、格子欠陥のあるところや特定の原子を選択的に取り除く方法。試料表面の組織観察に使われる。TEM用の試料作製では選択的でない一様な薄膜化が必要と...
【英】：dimple grinder回転研磨機などであらかじめ100ミクロン以下に研磨した平行平板試料に、くぼみを作り最も薄いところは10ミクロン以下にする機械的研磨機。研磨剤としては粒子サイズの異な...
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