「原子番号効果」を解説文に含む見出し語の検索結果(11~20/30件中)

定量分析における補正法の一つ。ZAF補正に比べて、X線発生量の深さ分布を、より実際的なものにしたことと、原子番号効果、吸収効果をまとめて扱うことで誤差を小さくしているため、軽元素領域での定量分析で精度...
ZAF補正における補正項の一つ。入射電子の侵入深さや反射電子の発生率は、試料の平均原子番号に依存するため、入射電子の特性X線に対する発生寄与率が異なる。これを、原子番号効果(atomic number...
ZAF補正における補正項の一つ。入射電子の侵入深さや反射電子の発生率は、試料の平均原子番号に依存するため、入射電子の特性X線に対する発生寄与率が異なる。これを、原子番号効果(atomic number...
略語:F効果【英】:fluorescence excitation effect特性X線の分光分析において、分析の対象となる元素(目的元素)から放出される特性X線のほかに、目的元素以外の元素から放出さ...
略語:F効果【英】:fluorescence excitation effect特性X線の分光分析において、分析の対象となる元素(目的元素)から放出される特性X線のほかに、目的元素以外の元素から放出さ...
略語:F効果【英】:fluorescence excitation effect特性X線の分光分析において、分析の対象となる元素(目的元素)から放出される特性X線のほかに、目的元素以外の元素から放出さ...
【英】:Cliff-Lorimer method特性X線の分光分析において、目的元素の定量に用いる手法で試料が数10nm以下(測定元素の違いにより変わる)の場合に適用される。薄膜近似法ともいう。たとえ...
【英】:Cliff-Lorimer method特性X線の分光分析において、目的元素の定量に用いる手法で試料が数10nm以下(測定元素の違いにより変わる)の場合に適用される。薄膜近似法ともいう。たとえ...
【英】:Cliff-Lorimer method特性X線の分光分析において、目的元素の定量に用いる手法で試料が数10nm以下(測定元素の違いにより変わる)の場合に適用される。薄膜近似法ともいう。たとえ...
略語:Z効果【英】:atomic-number effect特性X線の分光分析において、入射電子線が後方散乱されてX線励起に寄与しない電子の割合が試料の平均原子番号に依存するために、試料から発生するX...




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