走査電子顕微鏡基本用語集のアクセスランキング
2010年12月16日のデイリーキーワードランキング
1 | EDX |
2 | オリフィス |
3 | EDS |
4 | 空間分解能 |
5 | 緩衝液 |
6 | 非点収差 |
7 | 二次電子 |
8 | 反射電子 |
9 | EBSD |
10 | 分解能 |
11 | .tmp |
12 | イオンミリング |
13 | EPMA |
14 | 輝度 |
15 | 焦点深度 |
16 | WDS |
17 | エネルギー分解能 |
18 | SEM |
19 | シンチレータ |
20 | デッドタイム |
21 | CP |
22 | バフ研磨 |
23 | 熱電子放出 |
24 | イオン化 |
25 | エッジ効果 |
26 | 吸収電流 |
27 | 熱電子銃 |
28 | ガンマ補正 |
29 | 親水化処理 |
30 | コントラスト |
31 | 計数率 |
32 | 電子プローブ |
33 | カーボンコーター |
34 | ドータイト |
35 | 導電性ペースト |
36 | 後方散乱電子 |
37 | 暗視野像 |
38 | ZAF補正 |
39 | 電界放出電子銃 |
40 | 集束レンズ |
41 | HAADF |
42 | ROI |
43 | 散布図 |
44 | 電子線 |
45 | 測長SEM |
46 | 明視野像 |
47 | ゴニオメータ |
48 | スティグマ |
49 | 光電子増倍管 |
50 | 二次電子検出器 |
2025年5月2日 03時04分更新(随時更新中)