走査電子顕微鏡基本用語集のアクセスランキング
2010年7月28日のデイリーキーワードランキング
1 | EDX |
2 | オリフィス |
3 | CP |
4 | インターロック |
5 | ROI |
6 | 分解能 |
7 | 二次電子 |
8 | SEM |
9 | EBSD |
10 | EDS |
11 | 散布図 |
12 | 回折格子 |
13 | 輝度 |
14 | スパッタリング |
15 | イオンスパッタ装置 |
16 | 空間分解能 |
17 | コントラスト |
18 | トリミング |
19 | WDS |
20 | 親水化処理 |
21 | エネルギー分解能 |
22 | 真空ポンプ |
23 | .tmp |
24 | イオンミリング |
25 | 二次電子検出器 |
26 | 絞り |
27 | 焦点深度 |
28 | オングストローム |
29 | 非弾性散乱 |
30 | WDX |
31 | 定性分析 |
32 | 特性X線 |
33 | バフ研磨 |
34 | バイアス電圧 |
35 | 電界放出電子銃 |
36 | 樹脂包埋 |
37 | 熱電子放出 |
38 | 走査 |
39 | 計数率 |
40 | 真空蒸着 |
41 | 電子プローブ |
42 | ショットキー電子銃 |
43 | オージェ電子 |
44 | TEM |
45 | STEM |
46 | レシピ |
47 | DP |
48 | シンチレータ |
49 | ガンマ補正 |
50 | 電子線マイクロアナライザ |
2025年5月3日 22時55分更新(随時更新中)