走査電子顕微鏡基本用語集のアクセスランキング
2013年5月15日のデイリーキーワードランキング
1 | EDS |
2 | オリフィス |
3 | 二次電子 |
4 | 焦点深度 |
5 | イオンミリング |
6 | ROI |
7 | EPMA |
8 | 加速電圧 |
9 | 緩衝液 |
10 | バフ研磨 |
11 | シリコンドリフト検出器 |
12 | 固定 |
13 | EDX |
14 | エネルギー分解能 |
15 | デポ |
16 | イオンスパッタ装置 |
17 | 暗視野像 |
18 | 反射電子 |
19 | 二次電子検出器 |
20 | 空間分解能 |
21 | 相対強度 |
22 | 非点収差 |
23 | 分解能 |
24 | トリミング |
25 | ガンマ補正 |
26 | リターディング法 |
27 | シンチレータ |
28 | ブランキング |
29 | 散布図 |
30 | SIP |
31 | コンタミネーション |
32 | 測長SEM |
33 | 弾性散乱 |
34 | SIM像 |
35 | コンデンサレンズ |
36 | デッドタイム |
37 | 明視野像 |
38 | 輝度 |
39 | 画像処理 |
40 | ブラッグ反射 |
41 | エミッタ |
42 | エスケープピーク |
43 | 階調 |
44 | SEM |
45 | 連続X線 |
46 | 鏡筒 |
47 | EBSD |
48 | 劈開 |
49 | ゴニオメータ |
50 | 親水化処理 |
2025年5月7日 11時28分更新(随時更新中)