透過電子顕微鏡基本用語集のアクセスランキング
2025年3月27日のデイリーキーワードランキング
| 1 | しきい値 |
| 2 | 収束 |
| 3 | 干渉 |
| 4 | スペクトル |
| 5 | MCP |
| 6 | Contamination |
| 7 | 輝度 |
| 8 | 收束 |
| 9 | ウェーネルト電極 |
| 10 | ヒステリシス |
| 11 | へき開 |
| 12 | depth-of-focus |
| 13 | distortion |
| 14 | 金属 |
| 15 | alloy |
| 16 | ホローコーン照射 |
| 17 | 變形 |
| 18 | 平滑化 |
| 19 | 変形 |
| 20 | CROSSOVER |
| 21 | クリフ・ロリマー法 |
| 22 | 外乱 |
| 23 | ウィンドウレス型EDS検出器 |
| 24 | K-factor |
| 25 | 置換 |
| 26 | rotation axis |
| 27 | エネルギー損失吸収端微細構造 |
| 28 | 境界 |
| 29 | 偏析 |
| 30 | grid |
| 31 | 不純物 |
| 32 | 超格子 |
| 33 | metal |
| 34 | Cliff-Lorimer method |
| 35 | 減衰 |
| 36 | シリコンドリフト検出器 |
| 37 | 開き角 |
| 38 | 背圧 |
| 39 | ZAF補正法 |
| 40 | dose |
| 41 | 格子定数 |
| 42 | 二次電子検出器 |
| 43 | 反射電子検出器 |
| 44 | 近軸近似 |
| 45 | 試料支持部 |
| 46 | plating |
| 47 | 合金 |
| 48 | 対物レンズ |
| 49 | 研磨 |
| 50 | 磁性体 |
2025年7月31日 00時05分更新(随時更新中)
