透過電子顕微鏡基本用語集のアクセスランキング
2012年9月8日のデイリーキーワードランキング
1 | 焦点深度 |
2 | ハイドロカーボン |
3 | 干渉 |
4 | シンチレータ |
5 | ローパスフィルタ |
6 | ハイパスフィルタ |
7 | 冷媒 |
8 | 計数率 |
9 | EDS |
10 | クロスオーバ |
11 | 電磁レンズ |
12 | 置換 |
13 | イオンミリング |
14 | 非点収差 |
15 | SEM |
16 | 連続X線 |
17 | レプリカ |
18 | しきい値 |
19 | 球面収差 |
20 | 平滑化 |
21 | 収束 |
22 | 輝度 |
23 | 最小錯乱円 |
24 | 電界放出 |
25 | 減衰 |
26 | スペクトル |
27 | ヨーク |
28 | 歪曲収差 |
29 | 研磨 |
30 | 変形 |
31 | 単結晶 |
32 | 逆格子 |
33 | ポテンシャル障壁 |
34 | brightness |
35 | 境界 |
36 | ショットキー型電子銃 |
37 | 仮想光源 |
38 | EPMA |
39 | 静電レンズ |
40 | 双晶 |
41 | 到達圧力 |
42 | 偏析 |
43 | 金属 |
44 | 粗引き |
45 | 回折格子 |
46 | 暗視野像 |
47 | 電解研磨 |
48 | 二次電子 |
49 | 界面 |
50 | 干渉縞 |
2025年5月2日 00時38分更新(随時更新中)