透過電子顕微鏡基本用語集のアクセスランキング
2018年12月9日のデイリーキーワードランキング
| 1 | 干渉 |
| 2 | ハイパスフィルタ |
| 3 | エッチング |
| 4 | グリッド |
| 5 | 境界 |
| 6 | レプリカ |
| 7 | ローパスフィルタ |
| 8 | 収束 |
| 9 | 平滑化 |
| 10 | 研磨 |
| 11 | エネルギー分解能 |
| 12 | SSD |
| 13 | スムージング |
| 14 | 回折コントラスト |
| 15 | 金属 |
| 16 | 電磁波 |
| 17 | スペクトル |
| 18 | 輝度 |
| 19 | グイ |
| 20 | 置換 |
| 21 | コーティング |
| 22 | 位相コントラスト |
| 23 | 偏析 |
| 24 | デッドタイム |
| 25 | MDS |
| 26 | 減衰 |
| 27 | 計数率 |
| 28 | 暗視野像 |
| 29 | ABF-STEM |
| 30 | しきい値 |
| 31 | 非晶質 |
| 32 | 結晶構造因子 |
| 33 | 冷媒 |
| 34 | めっき |
| 35 | SEM |
| 36 | ロッキングカーブ |
| 37 | アクティブ磁場キャンセル装置 |
| 38 | フォノン |
| 39 | 固溶体 |
| 40 | 合金 |
| 41 | イオン化断面積 |
| 42 | 光学ポテンシャル |
| 43 | EPMA |
| 44 | 粗引き |
| 45 | 高角度散乱暗視野法 |
| 46 | FIB |
| 47 | secondary electron |
| 48 | 明視野像 |
| 49 | k 因子 |
| 50 | アンダーフォーカス |
2025年5月10日 00時03分更新(随時更新中)
