bright-field image

走査電子顕微鏡基本用語集

明視野像　bright-field image

STEM像あるいはTEM像の一つ。試料を透過した電子の内、散乱されずに透過した電子、および小さい角度で散乱した電子を検出して作られた像。非晶質試料の場合は（厚さ×密度）積が大きい部分が暗くなり、結晶性試料の場合は回折条件を満足した部分が暗くなる。

関連する用語

• STEM
• TEM
• 暗視野像

透過電子顕微鏡基本用語集

明視野像

【英】：bright-field image

対物レンズの後焦点面上に形成される回折図形中の透過波（試料で回折を受けずに透過してきた波）を対物絞りで選んで結像した像。回折を起こしている場所は暗く、回折を起こしていない部分は明るく見える。暗視野像とともに、試料の格子欠陥の解析や試料の膜厚測定に利用される。

関連する用語

• ブラッグ反射
• 回折コントラスト
• 暗視野像
• 等厚干渉縞
• 等傾角干渉縞

説明に「明視野像」が含まれている用語

• GPゾーン
• アルファフリンジ
• ケーラー照射
• デルタフリンジ
• 暗視野像
• 環状明視野法
• 対物絞り
• 大角度収束電子回折法
• 等傾角干渉縞
• 等厚干渉縞