エー‐エフ‐エム【AFM】
読み方:えーえふえむ
《atomic force microscope》⇒原子間力顕微鏡
AFM(Atomic Force Microscope)
原子間力顕微鏡
(atomicforcemicroscope から転送)
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2020/10/10 16:14 UTC 版)
原子間力顕微鏡(げんしかんりょくけんびきょう、英: atomic force microscope、 AFM)[1]は、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の一種。その名のとおり、試料と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る。
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- 1 原子間力顕微鏡とは
- 2 原子間力顕微鏡の概要
- 3 応用分野
- 4 関連項目
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